塑料顆粒機(jī)全套設(shè)備價(jià)格小型包裝帶和卷軸的ESD靜電防護(hù)表面電阻測(cè)量方法:ESD靜電防護(hù)表面電阻測(cè)試儀METRISO 3000

　　根據(jù)IEC 61340-2-3-2016第10章非平面材料和小結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的電阻測(cè)量，推薦用于測(cè)試具有不規(guī)則形狀表面的物品的方法。傳統(tǒng)的同心環(huán)和平行棒電極配置僅用于測(cè)試平面物品。 然而，大多塑料顆粒機(jī)全套設(shè)備價(jià)格數(shù)包裝物品都不是平面的。 示例包括運(yùn)輸管、托盤、手提箱和載帶。因此可以使用符合標(biāo)準(zhǔn)要求的探頭，使用彈簧在電極和物品之間施加一致的接觸壓力。 彈簧產(chǎn)生的力受磨損、污染和制造公差的影響。對(duì)于此應(yīng)用程序，此差異是可以接受的。彈性電塑料顆粒機(jī)全套設(shè)備價(jià)格極補(bǔ)償不平坦的物品表面。這些功能在實(shí)驗(yàn)室和測(cè)試操作員之間產(chǎn)生一致的結(jié)果。

　　

　　第10.3章節(jié)規(guī)定了測(cè)試流程/方法，測(cè)試程序如下：

　　a)將探頭連接到測(cè)試儀主機(jī)。

　　b)將樣品（Item under test）放在樣品支撐面上（Sample support surface）。

　　c)將彈簧銷向下壓縮大約行程長度的一半（見圖10）。

　　d)施加(10.0± 0.5) V 持續(xù)(15± 1 ) 秒并觀察電阻。塑料顆粒機(jī)全套設(shè)備價(jià)格如果電阻讀數(shù)小于1MΩ，記錄電阻值并繼續(xù)執(zhí)行列表項(xiàng)f)。如果電阻大于或等于1MΩ，則繼續(xù)列表項(xiàng)e)。

　　e)如果在列表項(xiàng)d)中觀察到的電阻大于或等于1MΩ，則將電壓更改為(100±[文] 5) V 并重復(fù)測(cè)量。記錄電阻值。

　　f)對(duì)每個(gè)剩余的試樣重復(fù)測(cè)試。

　　注 1：試樣尺寸的變化會(huì)影響測(cè)量。

　　注 2：塑料顆粒機(jī)全套設(shè)備價(jià)格電阻測(cè)量會(huì)受到電極尺寸和間距的影響。選擇3.2 mm直徑和3.2 mm間距的電極來測(cè)試各種包裝類型和尺寸。

　　注 3：特定樣品材料的電阻測(cè)量值可能因以下原因而有所不同：

　　a)樣品表面成分或厚度的變化；

　　b)通過電極的力壓縮樣品；

　　c)電極材料中電阻的變化；

　　d)測(cè)量電流塑料顆粒機(jī)全套設(shè)備價(jià)格引起的材料特性變化；

　　e)電極或樣品的清潔度。

　　注 4：對(duì)各種電極材料的測(cè)試表明，使用比規(guī)定更硬的橡膠材料會(huì)使讀數(shù)[章]產(chǎn)生更大的變化。

　　第11章規(guī)定了重復(fù)性和再現(xiàn)性：

　　給定樣品的電阻隨測(cè)試條件而變化，材料不均勻是正常的。 因此，測(cè)定結(jié)果的重現(xiàn)性塑料顆粒機(jī)全套設(shè)備價(jià)格通常不超過±10%，而且往往差異更大（在明顯相同的條件下可以獲得一個(gè)數(shù)量級(jí)的值范圍）。相似樣品測(cè)量的可比性需要具有相似電壓梯度的測(cè)試性能。

　　可以假設(shè)這些測(cè)試方法的可重復(fù)性在大約二分之一數(shù)量級(jí)的范圍內(nèi)。 如果一系列實(shí)驗(yàn)室測(cè)試的平均值為50G Ω，塑料顆粒機(jī)全套設(shè)備價(jià)格則可以預(yù)期值的分布范圍為25GΩ 到 75GΩ。

　　德國高美測(cè)儀ESD靜電防護(hù)表面電阻測(cè)試儀METRISO 3000或者M(jìn)ETRISO B530，可選配符合IEC61340-2-3標(biāo)準(zhǔn)迷你測(cè)試表筆；用于小型包裝帶和卷軸的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)表面電阻測(cè)量。(適用于測(cè)試具有不規(guī)則形狀表面的物品)。兩針頭的表筆可用于硬質(zhì)材料測(cè)量；塑料顆粒機(jī)全套設(shè)備價(jià)格多針頭的表筆可用于軟質(zhì)材料測(cè)量。

　　

ESD靜電防護(hù)表面電阻測(cè)試儀METRISO 3000

　　

ESD靜電防護(hù)表面電阻測(cè)試儀METRISO 3000

　　

　　卷軸的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)表面電阻測(cè)量

　　

　　小型包裝帶的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)表面電阻測(cè)量

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